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提升半导体性能的创新银焊片解决方案

   2025-02-28 0
核心提示:针对第三代半导体的键合难题,一款创新的预烧结银焊片提供了有效的解决途径,满足高功率应用需求。

在当今新能源汽车、5G通讯和光伏储能等行业迅速发展的背景下,第三代半导体材料如碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)因其耐高温、快速开关和优良导热性能而备受关注。这些材料在器件键合过程中常常面临较低的良率,导致性能无法充分发挥,进而限制了其应用的广泛性。

为解决这一挑战,创新的预烧结银焊片应运而生,专为增强芯片通流能力和功率循环能力而设计,确保在高功率应用中的稳定性和可靠性。通过细致的研发,这款银焊片不仅提高了铜线键合的良率,还在极端环境下,如高低温循环、高压和高频条件下,保持器件性能的稳定性。


此焊片主要服务于功率半导体器件的键合要求,由特有的复合材料结构组成,包括具有键合功能的铜箔、烧结银、可加入的临时固定胶粘剂,以及保护膜或承载物。其在金、银、铜表面的剪切强度非常高,能够满足高功率器件的严格标准。


具有高达450℃熔点的纯银材质,预烧结银焊片不含有害助焊剂,表现出卓越的材料性能。这款焊片还支持根据特定应用需求进行定制加工,适应不同的键合场景。


这种创新的预烧结银焊片为第三代半导体的应用提供了技术支持,在提高键合良率的满足高温、高效和节能的系统设计需求。通过这种解决方案,新能源汽车、5G通讯和光伏储能等领域得以在技术和应用上获得可靠支持,推动行业向前发展。

 
标签: 发展 关注 应用
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